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存储器测试方法培训

六、存储器测试方法培训

1、课程名称:存储器测试方法培训

2、培训对象:

产品经理、开发经理、软件工程师、生产设备开发工程师

3、课程简介:

存储器是电子设备中大量使用的器件,其加工质量、产品质量、产品特性等均对系统的稳定性和可靠性产生很大的影响。我司在生产测试研究中积累了大量经验,特别在存储器测试方法研究上进行了规范而深入的研究。通过对该课程的学习,学员可以详细了解测试的基本概念、存储器的结构、存储器故障模式以及各种存储器测试算法。

4、讲师介绍:

1999-2004年 深圳市华为技术有限公司研发体系制造技术研究部高级工程师,工作期间,设计开发了各种测试仪器近百件,具有丰富的实践工作经验。2004年至今,从事JTAG测试仪器开发,对JTAG技术规范方面有非常深刻的理解和应用经验。

5、培训内容/安排:

第一章    测试基础,介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型

第二章    测试方法,详细论述了存储器内部结构、故障模式以及测试算法等。

第三章    可测试性设计方法

6、课时安排

测试基础介绍1小时、测试方法6小时、可测试性设计方法1小时

定制服务:

a、JTAG技术支持(规范审查、原理图检视)

b、系统级JTAG开发

c、JTAG.NET应用下的CPU/FLASH库开发

d、JTAG.NET应用下的测试程序开发

e、JTAG.NET应用下的专用芯片驱动测试开发

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