存储器测试方法培训

六、存储器测试方法培训

1、课程名称：存储器测试方法培训

2、培训对象：

产品经理、开发经理、软件工程师、生产设备开发工程师

3、课程简介：

存储器是电子设备中大量使用的器件，其加工质量、产品质量、产品特性等均对系统的稳定性和可靠性产生很大的影响。我司在生产测试研究中积累了大量经验，特别在存储器测试方法研究上进行了规范而深入的研究。通过对该课程的学习，学员可以详细了解测试的基本概念、存储器的结构、存储器故障模式以及各种存储器测试算法。

4、讲师介绍：

1999－2004年 深圳市华为技术有限公司研发体系制造技术研究部高级工程师，工作期间，设计开发了各种测试仪器近百件，具有丰富的实践工作经验。2004年至今，从事JTAG测试仪器开发，对JTAG技术规范方面有非常深刻的理解和应用经验。

5、培训内容/安排：

第一章    测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型

第二章    测试方法，详细论述了存储器内部结构、故障模式以及测试算法等。

第三章    可测试性设计方法

6、课时安排

测试基础介绍1小时、测试方法6小时、可测试性设计方法1小时

定制服务：

a、JTAG技术支持（规范审查、原理图检视）

b、系统级JTAG开发

c、JTAG.NET应用下的CPU/FLASH库开发

d、JTAG.NET应用下的测试程序开发

e、JTAG.NET应用下的专用芯片驱动测试开发

本文内容仅供参考，如有技术更改，恕不另行通知。购买请以实物为准。如有未尽事宜请访问深圳诚迅边界扫描科技有限公司网站 http://www.sixuntech.com 或电至130-7608-0158（手机一键拨号） ,我们将尽最大的努力帮助您。